[6529pcs ស្តុក]
- លេខផ្នែក:
- SN74BCT8374ANT
- ក្រុមហ៊ុនផលិត:
- Texas Instruments
- ការពិពណ៌នាលំអិត:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP.
- Manufacturer's standard lead time:
- នៅក្នុងស្តុក
- ជីវិតធ្នើ:
- មួយឆ្នាំ
- ជីបពី:
- ហុងកុង
- RoHS:
- វិធីសាស្រ្តទូទាត់:
-
- មធ្យោបាយដឹកជញ្ជូន:
- ក្រុមគ្រួសារ:
- ខេធីសមាសធាតុសមាសភាគខូអិលធីឌីគឺជាអ្នកចែកចាយគ្រឿងអេឡិចត្រូនិចដែលផ្តល់ជូននូវប្រភេទផលិតផលរួមមាន៖ ស៊ី ១ ។
- គុណសម្បត្តិនៃការប្រកួតប្រជែង:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8374ANT electronic components. SN74BCT8374ANT can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8374ANT, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8374ANT គុណលក្ខណៈផលិតផល
លេខផ្នែក :
SN74BCT8374ANT
ក្រុមហ៊ុនផលិត :
Texas Instruments
ការពិពណ៌នា :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
ស៊េរី :
74BCT
ស្ថានភាពផ្នែក។ :
Obsolete
ប្រភេទឡូជីខល។ :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
វ៉ុលផ្គត់ផ្គង់។ :
4.5V ~ 5.5V
ចំនួនប៊ីត។ :
8
សីតុណ្ហភាពប្រតិបត្តិការ។ :
0°C ~ 70°C
ប្រភេទម៉ោន។ :
Through Hole
កញ្ចប់ / ករណី។ :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
កញ្ចប់ឧបករណ៍អ្នកផ្គត់ផ្គង់។ :
24-PDIP
ព័ត៌មានថ្មីៗ
អ្នកក៏អាចចាប់អារម្មណ៍ផងដែរ
គ្រឿងបន្លាស់ក្តៅ
- 74HC283D/AUJ
- SSTVF16857DGV,118
- SSTUH32864EC/G,551
- PT7C5029B-2DE
- MC10EP16TMNR4G
- SSTV16857DGG,118
- SY100EL16VCZG-TR
- SY10EP16UKG
- SSTVF16859BG
- SSTVA32852AHT
- SSTUF32864BHLFT
- SSTUAF32865AHLF
- IDT74SSTU32865BKG8
- SN74ABT8543DWRG4
- CD40117BPW
- SY100EL16VBZG
- SN74SSTVF16857VRG4
- MC10LVEP16DTR2
- MC10H334FNG
- MC10E116FNR2
- MC100LVEP16DTR2
- SY10EP16VZC
- SY10EL16VDKG-TR
- SY10EL16VCKI
- SY10E116JY-TR
- SY10E116JI TR
- SY100EL16VEZI-TR
- SY100EL16VCZC
- SY10EL16VZG
- MC100EP16VTDT
- NB100LVEP17DT
- NB100LVEP17DTR2
- SN74GTLP2034DGGR
- SSTUH32864EC,557
- IDT74SSTUBH32865ABKG8
- MC100EP16VSDR2G
- SY10EL16VCKC TR
- 74F381PC
- SSTUG32865ET/S,518
- SN74S1050DRG4