លេខផ្នែក :
SN74BCT8244ADWE4
ក្រុមហ៊ុនផលិត :
Texas Instruments
ការពិពណ៌នា :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
ប្រភេទឡូជីខល។ :
Scan Test Device with Buffers
វ៉ុលផ្គត់ផ្គង់។ :
4.5V ~ 5.5V
សីតុណ្ហភាពប្រតិបត្តិការ។ :
0°C ~ 70°C
ប្រភេទម៉ោន។ :
Surface Mount
កញ្ចប់ / ករណី។ :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
កញ្ចប់ឧបករណ៍អ្នកផ្គត់ផ្គង់។ :
24-SOIC