[6505pcs ស្តុក]
- លេខផ្នែក:
- SN74BCT8374ADWRE4
- ក្រុមហ៊ុនផលិត:
- Texas Instruments
- ការពិពណ៌នាលំអិត:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC.
- Manufacturer's standard lead time:
- នៅក្នុងស្តុក
- ជីវិតធ្នើ:
- មួយឆ្នាំ
- ជីបពី:
- ហុងកុង
- RoHS:
- វិធីសាស្រ្តទូទាត់:
-
- មធ្យោបាយដឹកជញ្ជូន:
- ក្រុមគ្រួសារ:
- ខេធីសមាសធាតុសមាសភាគខូអិលធីឌីគឺជាអ្នកចែកចាយគ្រឿងអេឡិចត្រូនិចដែលផ្តល់ជូននូវប្រភេទផលិតផលរួមមាន៖ ស៊ី ១ ។
- គុណសម្បត្តិនៃការប្រកួតប្រជែង:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8374ADWRE4 electronic components. SN74BCT8374ADWRE4 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8374ADWRE4, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8374ADWRE4 គុណលក្ខណៈផលិតផល
លេខផ្នែក :
SN74BCT8374ADWRE4
ក្រុមហ៊ុនផលិត :
Texas Instruments
ការពិពណ៌នា :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
ស៊េរី :
74BCT
ស្ថានភាពផ្នែក។ :
Obsolete
ប្រភេទឡូជីខល។ :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
វ៉ុលផ្គត់ផ្គង់។ :
4.5V ~ 5.5V
ចំនួនប៊ីត។ :
8
សីតុណ្ហភាពប្រតិបត្តិការ។ :
0°C ~ 70°C
ប្រភេទម៉ោន។ :
Surface Mount
កញ្ចប់ / ករណី។ :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
កញ្ចប់ឧបករណ៍អ្នកផ្គត់ផ្គង់។ :
24-SOIC
ព័ត៌មានថ្មីៗ
អ្នកក៏អាចចាប់អារម្មណ៍ផងដែរ
គ្រឿងបន្លាស់ក្តៅ
- 74HC283PW,118
- SSTVF16857DGG,512
- SSTUH32866EC,557
- PT7C5066FAD261332-5GWF
- PT7C5045LALA-2DE
- PT7C5029B-5GDE
- PT7C5029B-5GWF
- SY100EP16VZG-TR
- SSTUAF32868BHLF
- SY100EL16VCZG
- SSTUF32864AHLF
- SSTUB32872AHLF
- SSTUB32871AHMLF
- IDT74SSTVN16859NLG
- 74SSTV16859NLG8
- 74SSTU32864CBFG8
- CD40117BM
- SY10EL16VEZG
- SY10EL16VBZG-TR
- SY100EL16VSZG-TR
- SN74ABT8652DWRE4
- SN74FB2041ARCRG3
- SN74BCT8374ADWR
- MC10EP16VADR2
- MC100EP16VBDR2
- SY58600UMI TR
- SY10EL16VCKI-TR
- SY10E212JC
- SY100EL16VDKI-TR
- SY100EL16VCZI
- SY100EL16VBKC TR
- 74ACT1284MSAX
- MC10EL16DTG
- MC10EP17DT
- MC100EP16VCDT
- SN74S1052DWR
- SN74FB2033ARC
- SSTUA32864EC/G,557
- MC10EP17DW
- SSTUA32864EC,557