[1985pcs ស្តុក]
- លេខផ្នែក:
- SN74BCT8240ADWR
- ក្រុមហ៊ុនផលិត:
- Texas Instruments
- ការពិពណ៌នាលំអិត:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC.
- Manufacturer's standard lead time:
- នៅក្នុងស្តុក
- ជីវិតធ្នើ:
- មួយឆ្នាំ
- ជីបពី:
- ហុងកុង
- RoHS:
- វិធីសាស្រ្តទូទាត់:
-
- មធ្យោបាយដឹកជញ្ជូន:
- ក្រុមគ្រួសារ:
- ខេធីសមាសធាតុសមាសភាគខូអិលធីឌីគឺជាអ្នកចែកចាយគ្រឿងអេឡិចត្រូនិចដែលផ្តល់ជូននូវប្រភេទផលិតផលរួមមាន៖ ស៊ី ១ ។
- គុណសម្បត្តិនៃការប្រកួតប្រជែង:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8240ADWR electronic components. SN74BCT8240ADWR can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8240ADWR, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8240ADWR គុណលក្ខណៈផលិតផល
លេខផ្នែក :
SN74BCT8240ADWR
ក្រុមហ៊ុនផលិត :
Texas Instruments
ការពិពណ៌នា :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
ស៊េរី :
74BCT
ស្ថានភាពផ្នែក។ :
Obsolete
ប្រភេទឡូជីខល។ :
Scan Test Device with Inverting Buffers
វ៉ុលផ្គត់ផ្គង់។ :
4.5V ~ 5.5V
ចំនួនប៊ីត។ :
8
សីតុណ្ហភាពប្រតិបត្តិការ។ :
0°C ~ 70°C
ប្រភេទម៉ោន។ :
Surface Mount
កញ្ចប់ / ករណី។ :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
កញ្ចប់ឧបករណ៍អ្នកផ្គត់ផ្គង់។ :
24-SOIC
ព័ត៌មានថ្មីៗ
អ្នកក៏អាចចាប់អារម្មណ៍ផងដែរ
គ្រឿងបន្លាស់ក្តៅ
- 74HC283N,652
- SSTV16859DGG,112
- SSTUH32866EC/G,557
- SSTUA32866EC/G,551
- SSTU32864EC,551
- SSTV16859BS,151
- PT7C5037G1-2GDE
- PT7C5036G1-2DE
- SY10EL16VEKG TR
- SY10EL16VCZG-TR
- SY100EP16UZG-TR
- SSTUB32866BHLFT
- IDT74SSTVN16859PAG8
- IDT74SSTUBF32865ABK8
- 74SSTUBF32868ABKG8
- MC10EP17MNTXG
- SY100E416JY
- SN74ABT8952DLR
- SN74ABT18504PMR
- SN74ABT18640DLR
- SN74F283NSR
- SN74BCT8240ADWRE4
- MC10H330FNR2G
- MC10EP16DTR2
- MC10EP16DR2G
- MC10EL16DTR2G
- PI74SSTVF16859AE
- PI74SSTVF16857AE
- 74ACT1284TTR
- SY10EP16VZI-TR
- SY100EL16VCZC TR
- 74ACT1284SC
- MC10EP16VADTG
- SY100EL17VZI-TR
- MC10EP16TD
- 74F583PC
- SSTUA32864EC,551
- CSSTV32867SGKEREP
- SN74ABT8952DLRG4
- SY100E116JC