[6439pcs ស្តុក]
- លេខផ្នែក:
- SN74BCT8240ANTG4
- ក្រុមហ៊ុនផលិត:
- Texas Instruments
- ការពិពណ៌នាលំអិត:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP.
- Manufacturer's standard lead time:
- នៅក្នុងស្តុក
- ជីវិតធ្នើ:
- មួយឆ្នាំ
- ជីបពី:
- ហុងកុង
- RoHS:
- វិធីសាស្រ្តទូទាត់:
-
- មធ្យោបាយដឹកជញ្ជូន:
- ក្រុមគ្រួសារ:
- ខេធីសមាសធាតុសមាសភាគខូអិលធីឌីគឺជាអ្នកចែកចាយគ្រឿងអេឡិចត្រូនិចដែលផ្តល់ជូននូវប្រភេទផលិតផលរួមមាន៖ ស៊ី ១ ។
- គុណសម្បត្តិនៃការប្រកួតប្រជែង:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8240ANTG4 electronic components. SN74BCT8240ANTG4 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8240ANTG4, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8240ANTG4 គុណលក្ខណៈផលិតផល
លេខផ្នែក :
SN74BCT8240ANTG4
ក្រុមហ៊ុនផលិត :
Texas Instruments
ការពិពណ៌នា :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
ស៊េរី :
74BCT
ស្ថានភាពផ្នែក។ :
Obsolete
ប្រភេទឡូជីខល។ :
Scan Test Device with Inverting Buffers
វ៉ុលផ្គត់ផ្គង់។ :
4.5V ~ 5.5V
ចំនួនប៊ីត។ :
8
សីតុណ្ហភាពប្រតិបត្តិការ។ :
0°C ~ 70°C
ប្រភេទម៉ោន។ :
Through Hole
កញ្ចប់ / ករណី។ :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
កញ្ចប់ឧបករណ៍អ្នកផ្គត់ផ្គង់។ :
24-PDIP
ព័ត៌មានថ្មីៗ
អ្នកក៏អាចចាប់អារម្មណ៍ផងដែរ
គ្រឿងបន្លាស់ក្តៅ
- SSTVF16859BS,157
- SSTV16857DGG,518
- PT7C5229C-5GDE
- PT7C5131C-5GWF
- PT7C5038A1-2GWF
- SY100EP16VKG-TR
- MC14490FELG
- SSTUF32864BHLF
- SSTUB32S868CHLF
- SSTUB32871AHLFT
- 74SSTVF16859NLG8
- 74SSTVF16857PAG
- 74SSTV16857PAG8
- SN74AS181ADWG4
- 74GTLP2033DGVRG4
- SY54016RMG-TR
- MC100EP116MNR4G
- 74GTLP22034DGGRE4
- SY10EL16VDZG TR
- SY10EL16VDZG
- SY100EL16VDZG-TR
- SN74LS283DR
- SN74ABT8543DLR
- SN74AS181ADWE4
- MC10LVEP16DR2G
- MC10H330PG
- MC10EL16DTR2
- SY10EP16VKG-TR
- SY10EL16VBZC
- SY10E416JI-TR
- SY100S336JC
- 74ABT899CSCX
- MC100EP17DWR2G
- SN74GTLP2034GQLR
- SN74ABT8952DL
- SN74ABT8952DW
- IDT74SSTU32865BKG
- 74SSTUBF32868ABKG
- SN74SSTU32866ZKER
- SN74ABT8646DLR